Extended diagnostics of semiconductor UV detectors

The article presents selected issues of UV detectors’ diagnostics. When choosing the UV detector to a specific application, one should take into account that their optical and electrical parameters can vary significantly during operation. The most common sources of these processes are long term e... Ausführliche Beschreibung

1. Person: Joanna Ćwirko verfasserin
Weitere Personen: Robert Ćwirko verfasserin
Quelle: In Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej (01.07.2016)
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Format: Online-Artikel
Sprache: English
Greek, Modern (1453- )
Veröffentlicht: 2016
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